怎样用万用表测光耦的好坏？ 用数字万用表的PN结测量端 。
用红表笔的“电池+极”来接光耦的“1”端，用黑表笔的“电池-极”来接光耦的“2”端，用另外一个电表来测量“3”“4”端的电阻，断开或者接通输入端，当输出端的电阻有大幅度的变化时，说明光耦是好的 。 反之，则说明是坏的 。
扩展资料
工作特性
1.共模抑制比很高
在光电耦合器内部，由于发光管和受光器之间的耦合电容很小（2pF以内）所以共模输入电压通过极间耦合电容对输出电流的影响很小，因而共模抑制比很高 。
2.输出特性
光电耦合器的输出特性是指在一定的发光电流IF下，光敏管所加偏置电压VCE与输出电流IC之间的关系，当IF=0时，发光二极管不发光，此时的光敏晶体管集电极输出电流称为暗电流，一般很小 。 当IF>0时，在一定的IF作用下，所对应的IC基本上与VCE无关 。
IC与IF之间的变化成线性关系，用半导体管特性图示仪测出的光电耦合器的输出特性与普通晶体三极管输出特性相似 。
3.光电耦合器可作为线性耦合器使用
在发光二极管上提供一个偏置电流，再把信号电压通过电阻耦合到发光二极管上，这样光电晶体管接收到的是在偏置电流上增、减变化的光信号，其输出电流将随输入的信号电压作线性变化 。 光电耦合器也可工作于开关状态，传输脉冲信号 。
在传输脉冲信号时，输入信号和输出信号之间存在一定的延迟时间，不同结构的光电耦合器输入、输出延迟时间相差很大 。
参考资料：
光耦用万用表怎么测量啊 光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成 。 如光电耦合器4N25，采用DIP－6封装，共六个引脚，①、②脚分别为阳、阴极，③脚为空脚，④、⑤、⑥脚分别为三极管的e、c、b极 。
以往用万用表测光耦时，只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好坏，对光耦的传输性能未进行判断 。 这里以光耦4N25为例，介绍一种测量光耦传输特性的方法 。
1． 判断发光二极管好坏与极性：用万用表R×1k挡测量二极管的正、负向电阻，正向电阻一般为几千欧到几十千欧，反向电阻一般应为∞ 。 测得电阻小的那次，红笔接的是二极管的负极 。
2． 判断受光三极管的好坏与放大倍数：将万用表开关从电阻挡拨至三极管hFE挡，使用NPN型插座，将E孔连接④脚发射极，C孔连接⑤脚集电极，B孔连接⑥脚基极，显示值即为三极管的电流放大倍数 。 一般通用型光耦hFE值为一百至几百，若显示值为零或溢出为∞，则表明三极管短路或开路，已损坏 。
3． 光耦传输特性的测量：测试具体接线见下图，将数字万用表开关拨至二极管挡位，黑笔接发射极，红笔接集电极，⑥脚基极悬空 。 这时，表内基准电压2．8V经表内二极管挡的测量电路，加到三极管的c、e结之间 。 但由于输入二极管端无光电信号而不导通，液晶显示器显示溢出符号 。 当输入端②脚插入E孔，①脚插入C孔的NPN插座时，表内基准电源2．8V经表内三极管hFE挡的测量电路，使发光二极管发光，受光三极管因光照而导通，显示值由溢出符号瞬间变到188的示值 。 当断开①脚阳极与C孔的插接时，显示值瞬间从188示值又回到溢出符号 。 不同的光耦，传输特性与效率也不相同，可选择示值稍小、显示值稳定不跳动的光耦应用 。
由于表内多使用9V叠层电池，故给输入端二极管加电的时间不能过长，以免降低电池的使用寿命及测量精度，可采用断续接触法测量 。
817c光耦怎么测好坏 光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成 。 如光电耦合器4N25，采用DIP－6封装，共六个引脚，①、②脚分别为阳、阴极，③脚为空脚，④、⑤、⑥脚分别为三极管的e、c、b极 。
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